当前位置: 首页仪器设备LB膜分析仪(KSV5000 System3)
J-810
仪器编号:
仪器名称:
LB膜分析仪
High Performance Alternate Layer Combination System
  型号:
KSV5000 System3
生产厂商:
芬兰KSV仪器公司
出厂年月:
 出厂号:
购置年月:
  单价:
 
放置地点:
卢嘉锡楼-137#

仪器管理组:

  韩国彬
  赖注治, 0592-2183548(O), zzlai@xmu.edu.cn
  陈韵晴, 0592-2183549(O), yunqingchen@xmu.edu.cn

  • 主要技术指标&应用
  • 主要附件
  • 参考文献
  • 测试须知

主要技术指标

  • 计算机控制,可在控温条件下分析液体表面上单分子膜的性能,并能在固体基片上交替沉积多层单分子膜。
  • 槽结构:体化的三槽,每个槽子都是独立的。两个槽用于铺展单分子层,中间槽是洁净的亚相槽,以防止交叉污染。
  • 沉积马达:4个直流伺服马达,分别独立负责上样品夹的运动、下样品夹的运动、样品的旋转、上/下样品夹的开合
  • 沉积速度:0.1~85mm/min(标准)
  • 速度步阶:0.1 mm/min
  • 沉积循环:1~无限多次
  • 停留时间:可调,
  • 范围:0~9999s
  • 镀膜头和膜天平位置调节:马达自动控制
  • 最大样品尺寸:100×100 mm(100%浸渍)
  • 膜天平测量范围:0~125mN/m
  • 膜天平分辨率:4μN/m
  • 膜天平:两个槽子各配备1个(共2个),分别独立工作。
  • 滑杖速度范围:0.01~800 mm/min
  • 槽表面积:2 × (775×120mm)
  • 软件:
    操作软件是在Windows系统下运行,软件具有控制、校准、实验程序设置、测量、数据采集和分析、在线显示、数据的输出和输入等功能。包括标准实验程序和单分子层的粘弹性测量:
    滑杖运动模式:振动模式
    频率:0~1000mHz
    面积变化(%):可调