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X'pert PRO
仪器编号:
20042174
仪器名称:
X射线衍射仪
  型号:
X'pert PRO
生产厂商:
荷兰帕纳科公司
PANalytical B.V., Netherlands
出厂年月:
2003年11月
 出厂号:
943003040601
购置年月:
2004年06月
  单价:
 
放置地点:
化学楼-204#

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仪器管理组:

  叶艺文, 0592-2185667(O), ywye@xmu.edu.cn
  魏赞斌, 0592-2185667(O), zbwei@xmu.edu.cn

  • 主要技术指标&应用
  • 主要附件
  • 参考文献
  • 测试须知

主要技术指标

  • 高压:65 kV max
  • 电流:50 mA max 2θ
  • 范围:0.4°~160°
  • 测试精度:0.001°/步
  • 高温原位:900° max

主要功能及应用

  • 用于材料、高分子、催化剂等研究领域中对物质的特定结构等进行定性、定量分析。
  • 包括:物相分析、晶粒大小分析、点阵畸变分析、结晶度分析、多晶结构分析、变温原位分析。
  • 超能阵列探测器(X’Celerator)
  • 高温原位样品室
  • 平行光探测器

 

 

 

每样品测试时间计算公式:

  1. 使用超能探测器 (X'celerator) 时 --------(for normal scan / grazing angle scan):
    [(结束角 - 起始角) ÷ 步长(度/步)] × 每步测试时间(秒/步) ÷ 120 ÷ 60 ? (分)
    [(End angle - Start angle) ÷ Step size] × Time per step (second) ÷ 120 ÷ 60? (minute)
  2. 使用平行光探测器时 -------(for small angle scan):
    [(结束角 - 起始角) ÷ 步长(度/步)] × 每步测试时间(秒/步) ÷ 60? (分)
    [(End angle - Start angle) ÷ Step size] × Time per step (second) ÷ 60? (minute)